Catégorie Article dans une revue Auteurs Frederic Houze Pascal Chrétien Olivier Schneegans René Meyer Lionel Boyer https://centralesupelec.hal.science/hal-00320223v1 doc ID 320223 Nom Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe atomic force microscopy in contact mode Date de publication mer 24/04/2024 - 12:00