Olivier Schneegans

Laboratoire

Génie Électrique et Électronique de PariS

Publications (49)

Article dans une revue 12/08/2025

Effect of fluorinated lubricants on the friction modes of tin electrical contacts submitted to fretting

Rahma Belakhdar , Sophie Noel , David Alamarguy , Olivier Schneegans , Edouard Bomme , G. Boccaletti , Olivier Schneegans

Article dans une revue 12/08/2025

Effect of fluorinated lubricants on the friction modes of tin electrical contacts submitted to fretting

Rahma Belakhdar , Sophie Noel , David Alamarguy , Olivier Schneegans , Edouard Bomme , G. Boccaletti , Olivier Schneegans

Communication dans un congrès 27/02/2025

Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent

Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frederic Houze , Karim Bouzehouane , Stéphane Fusil , Richard Mattana , Pierre Seneor , Frederic Houze

Communication dans un congrès 14/02/2025

Imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent

Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frederic Houze , Olivier Schneegans

Communication dans un congrès 14/02/2025

Imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent

Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frederic Houze , Olivier Schneegans

Article dans une revue 17/07/2024

Nanosized Electrochemical Cells Operated by AFM Conducting Probes

Olivier Schneegans , A. Moradpour , Lionel Boyer , D. Ballutaud , Olivier Schneegans

Article dans une revue 17/07/2024

Nanosized Electrochemical Cells Operated by AFM Conducting Probes

Olivier Schneegans , A. Moradpour , Lionel Boyer , D. Ballutaud , Olivier Schneegans

Article dans une revue 24/04/2024

Specific methodology for capacitance imaging by atomic force microscopy: A breakthrough towards an elimination of parasitic effects

Ivan Estevez , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frederic Houze , Olivier Schneegans

Article dans une revue 24/04/2024

Specific methodology for capacitance imaging by atomic force microscopy: A breakthrough towards an elimination of parasitic effects

Ivan Estevez , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frederic Houze , Olivier Schneegans

Communication dans un congrès 11/04/2024

Effect of Ge-dots buried below the interface on the transport properties of Schottky diodes

A. Hattab , F. Dufaye , F. Meyer , Yam Vy , Thanh Vinh Le , D. Bouchier , R. Meyer , O. Schneegans , C. Clerc , Olivier Schneegans