Yann Le Bihan

Laboratoire

Génie Électrique et Électronique de PariS

Site WEB

Publications (253)

Communication dans un congrès 01/01/2009

Ridge Polynomial Neural Network for Non-Destructive Eddy Current Evaluation

Tarik Hacib , Mohamed Mekideche , Nassira Ferkha , Yann Le Bihan

Autre publication scientifique 01/01/2009

Caractérisation électromagnétique de structures complexes

Hulusi Acikgoz , Lionel Pichon , Yann Le Bihan , Olivier Meyer

Article dans une revue 01/11/2008

Generation and use of optimised databases in microwave characterisation

Hulusi Acikgoz , Laurent Santandrea , S. Gyimothy , J. Pavo , Yann Le Bihan , Olivier Meyer , Lionel Pichon

Article dans une revue 01/08/2008

Characterization of small cracks in eddy current testing

J. Pavo , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Communication dans un congrès 01/07/2008

Study of the DOF management of dual formulations for the modelling of thin cracks in ECT

Yahya Choua , Laurent Santandrea , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Article dans une revue 01/06/2008

Adaptive mesh refinement and probe signal calculation in eddy current NDT by complementary formulations

Yahya Choua , Laurent Santandrea , Mohamed Bensetti , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Communication dans un congrès 01/05/2008

Modeling of a microwave sensor for the determination of the proportion of fluids in a gas line

Hulusi Acikgoz , Benjamin Jannier , Yann Le Bihan , Olivier Dubrunfaut , Olivier Meyer , Lionel Pichon

Communication dans un congrès 01/01/2008

Modélisation numérique d'un capteur pour la mesure des concentrations des phases d'un fluide en écoulement et inversion par réseaux de neurones

Hulusi Acikgoz , Benjamin Jannier , Yann Le Bihan , Olivier Dubrunfaut , Olivier Meyer

Article dans une revue 01/01/2008

Comparative Study of Coil Arrangements for the EC Testing of Small Surface Breaking Defects

Cyril Ravat , Pierre-Yves Joubert , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Communication dans un congrès 01/01/2008

Non destructive evaluation of small defects using an eddy current microcoil sensor array

Cyril Ravat , P.-Y. Joubert , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Article dans une revue 01/01/2008

Microwave characterization of dielectric materials using Bayesian neural networks

Hulusi Acikgoz , Yann Le Bihan , Olivier Meyer , Lionel Pichon

Communication dans un congrès 01/01/2008

Caractérisation micro-ondes de matériaux diélectrique par réseaux de neurones avec régulation bayesienne

Hulusi Acikgoz , Yann Le Bihan , Olivier Meyer , Lionel Pichon

Communication dans un congrès 01/01/2008

Generation and use of optimized databases in microwave characterization

Hulusi Acikgoz , Laurent Santandrea , S. Gyimothy , J. Pavo , Yann Le Bihan , Olivier Meyer , Lionel Pichon

Communication dans un congrès 01/01/2008

Performances d'une sonde matricielle à microbobines pour la détection par courants de Foucault de défauts débouchants de faibles dimensions

Cyril Ravat , P.-Y. Joubert , M. Woytazik , E. Dufour-Gergam , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Chapitre d'ouvrage 01/01/2008

Modelling of flawed riveted structures for EC inspection in aeronautics

S. Paillard , G. Pichenot , Yahya Choua , Hubert Voillaume , N. Dominguez , Yann Le Bihan , Marc Lambert

Communication dans un congrès 01/11/2007

Réseaux de neurones bayésiens pour la caractérisation micro-ondes

Hulusi Acikgoz , Yann Le Bihan , Olivier Meyer , Lionel Pichon

Communication dans un congrès 01/09/2007

Développement d’un outil de simulation numérique pour le CND par courants de Foucault

Yahya Choua , Laurent Santandrea , Mohamed Bensetti , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Article dans une revue 28/06/2007

A finite element modelling tool of a buried system for glass furnace wall characterization

Laurent Santandrea , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Poster de conférence 24/06/2007

Using Mortar Element Method for Eddy Current Testing Finite Element Computations

Laurent Santandrea , Yayha Choua , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Communication dans un congrès 01/06/2007

Modelling of flawed riveted structure for EC inspection in aeronautics

Séverine Paillard , Yahya Choua , Grégoire Pichenot , Hubert Voillaume , Nicolas Dominguez , Yann Le Bihan , Marc Lambert

Communication dans un congrès 01/06/2007

Adaptive Mesh Refinement and Probe Signal Calculation in Eddy Current NDT by Complementary Formulations

Laurent Santandrea , Yahya Choua , Mohamed Bensetti , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Communication dans un congrès 01/05/2007

Study on the calculation by FEM-BIM combination of the EC signal due to a crack in presence of an edge

Jozsef Pavo , Yahya Choua , Laurent Santandrea , Yann Le Bihan , Mohamed Bensetti , Claude Marchand

Article dans une revue 01/01/2007

Neural networks for broad-band evaluation of complex permittivity using a coaxial discontinuity

Hulusi Acikgoz , Yann Le Bihan , Olivier Meyer , Lionel Pichon

Communication dans un congrès 01/01/2007

Microwave characterization of dielectrics materials using the combination of a finite element technique and neural networks

Hulusi Acikgoz , Yann Le Bihan , Olivier Meyer , Lionel Pichon

Communication dans un congrès 01/01/2007

Technique d'inversion par réseaux de neurones appliquée à la caractérisation large bande de matériaux diélectriques

Hulusi Acikgoz , Yann Le Bihan , Olivier Meyer , Lionel Pichon

Communication dans un congrès 01/05/2006

Fine modeling of a tunable micro-inductance by a FEM based approach

Mohamed Bensetti , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Article dans une revue 01/05/2006

Development of an hybrid 3D FEM for the modeling of micro-coil sensors and actuators

Mohamed Bensetti , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Poster de conférence 04/04/2006

Parallel computing for eddy current testing simulation

Laurent Santandrea , Guilhem Savel , Adel Razek , Yann Le Bihan

Poster de conférence 04/04/2006

Adaptive mesh refinement for eddy current testing finite element computations

Laurent Santandrea , Yayha Choua , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Article dans une revue 20/03/2006

Computational environment for the fast calculation of ECT probe signal by field decomposition

J. Pavo , Yann Le Bihan , Mohamed Bensetti , Claude Marchand