Olivier Schneegans

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Publications (102)

Article dans une revue 01/01/2005

Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe atomic force microscopy in contact mode

Pascal Chrétien , René Meyer , Lionel Boyer , Frederic Houze , Olivier Schneegans

Communication dans un congrès 01/01/2005

Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe AFM in contact mode

Pascal Chrétien , René Meyer , Lionel Boyer , Frederic Houze , Olivier Schneegans

Communication dans un congrès 01/01/2005

Caractérisation de profils de dopage par imagerie de résistance locale à faible force

D. Mariolle , F. Bertin , Pascal Chrétien , Frederic Houze , Olivier Schneegans

Communication dans un congrès 01/01/2005

Multi-scale study of the electrical properties of organic layers grafted on gold surfaces

David Alamarguy , Nicole Lécaudé , Laurent Tristani , Sophie Noel , Olivier Schneegans

Article dans une revue 01/01/2004

Nanosized Electrochemical Cells Operated by AFM Conducting Probes

A. Moradpour , Lionel Boyer , D. Ballutaud , Olivier Schneegans

Communication dans un congrès 01/01/2004

Simultaneous height, resistance and capacitance cartography of a SRAM test sample by conducting probe AFM

Pascal Chrétien , René Meyer , Lionel Boyer , Olivier Schneegans , Frederic Houze

Article dans une revue 01/01/2004

Correlation between the electrical and mechanical behaviours of a nanocontact with an alkanethiol monolayer

David Alamarguy , Lionel Boyer , Olivier Schneegans , Sophie Noel

Article dans une revue 01/01/2004

Surface investigations of bonded perfluoro polyether monolayers on gold surfaces

David Alamarguy , René Meyer , Laurent Tristani , A. Di Meo , Sophie Noel , Olivier Schneegans

Communication dans un congrès 01/01/2003

Effect of Ge-dots buried below the interface on the transport properties of Schottky diodes

A. Hattab , F. Dufaye , F. Meyer , Yam Vy , Thanh Vinh Le , D. Bouchier , R. Meyer , O. Schneegans , C. Clerc , Olivier Schneegans

Communication dans un congrès 01/01/2003

Typologie de courbes Déflexion-Résistance par AFM à pointe conductrice ; exemples de surfaces d'or recouvertes de monocouches d'alcanethiols

David Alamarguy , Lionel Boyer , Olivier Schneegans , Sophie Noel

Article dans une revue 01/01/2002

“ Copper sample analyzed with an n-doped silicon tip using conducting probe atomic force microscopy

Lionel Boyer , René Meyer , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frederic Houze

Article dans une revue 01/07/2001

The poly(ethylene terephthalate)/polyaniline composite: AFM, DRS and EPR investigations of some doping effects

A. Pud , M. Tabellout , A. Kassiba , A. Korzhenko , S. Rogalsky , G. Shapoval , F. Houze , O. Schneegans , J. Emery , Frederic Houze , Olivier Schneegans