Frederic Houze

Laboratoire

Génie Électrique et Électronique de PariS

Publications (41)

Communication dans un congrè 14/02/2025

Imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent

Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frederic Houze

Communication dans un congrè 08/01/2025

Electrical behaviour of the wheel-rail contact

Frederic Houze , Philippe Teste , Florent Loete , Richard Andlauer , Hugues Chollet , Xavier Lorang , Sébastien Debucquoi , Francis Lerdu , Marc Antoni

Article dans une revue 18/12/2024

Field emission and material transfer in microswitches electrical contacts

M. Vincent , S. W. Rowe , C. Poulain , L. Chiesi , Frederic Houze , J. Delamare

Article dans une revue 18/12/2024

Élaboration et caractérisation chimique, topographique, tribologique et électrique de films de polyacrylonitrile post-traités en vue d'applications en connectique

Pascal Newton , Frederic Houze , Sophie Noel , Lionel Boyer , Pascal Viel , Gérard Lécayon

Article dans une revue 30/10/2024

Determination of the Power Balance for Thin Ag-SnO2 Electrodes Submitted to an Electric Arc Based on IR Thermography

Romaric Landfried , Mohamed Boukhlifa , Frederic Houze , Thierry Leblanc , Philippe Teste

Communication dans un congrè 30/10/2024

Proposition d’une méthode visant à estimer l’énergie apportée par un arc à une anode en Ag-SnO2

Aurélien Fouque , Alexandre Bonhomme , Georges Cailletaud , François Chaudot , Vladimir A. Esin , Frederic Houze , Romaric Landfried , Marina Lisnyak , Jean-Luc Ponthenier , Philippe Teste

Article dans une revue 24/04/2024

Specific methodology for capacitance imaging by atomic force microscopy: A breakthrough towards an elimination of parasitic effects

Ivan Estevez , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frederic Houze

Communication dans un congrè 21/02/2024

Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent

Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frederic Houze , Karim Bouzehouane , Stéphane Fusil , Richard Mattana , Pierre Seneor

Article dans une revue 24/03/2023

“ Copper sample analyzed with an n-doped silicon tip using conducting probe atomic force microscopy

Olivier Schneegans , Lionel Boyer , Frederic Houze , René Meyer , Pascal Chrétien

Communication dans un congrè 24/03/2023

Caractérisation de profils de dopage par imagerie de résistance locale à faible force

Frederic Houze , D. Mariolle , F. Bertin , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans