Frederic Houze

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Publications (140)

Article dans une revue 01/01/2006

Electrical characterization of Schottky diodes based on boron doped homoepitaxial diamond films by conducting probe atomic force microscopy

M. Liao , Y. Koide , Jose Alvarez , Frederic Houze , Jean-Paul Kleider

Communication dans un congrès 01/01/2006

Films minces nanocomposites à base de nanotubes de carbone et polymères fluorés pour la lubrification des contacts électriques

Alessandro Benedetto , David Alamarguy , N. Izard , P. Chenevier , P. Viel , Serge Palacin , Frederic Houze , Sophie Noel

Article dans une revue 01/01/2006

Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy

P. Bergonzo , E. Snidero , D. Tromson , Frederic Houze , Jose Alvarez , Jean-Paul Kleider

Communication dans un congrès 01/01/2006

Local photoconductivity on diamond metal-semiconductor-metal photodetectors measured byconducting probe atomic force microscopy

M. Liao , Y. Koide , Jose Alvarez , Jean-Paul Kleider , Frederic Houze

Autre publication scientifique 01/01/2006

Améliorations apportées au dispositif de mesure rapide de courant et de résistance électrique pouvant varier sur plusieurs décades

Pascal Chrétien , René Meyer , Lionel Boyer , Frederic Houze , Olivier Schneegans

Communication dans un congrès 01/01/2006

Local photoconductivity on Schottky diamond photodetectors measured by conducting probe atomic force microscopy

Pascal Chrétien , C. Bazin , M. Liao , Y. Koide , Jose Alvarez , Frederic Houze , Jean-Paul Kleider

Communication dans un congrès 01/01/2006

Mesures de capacités plan/plan dans la gamme 1pF-1fF : mise en évidence des effets de bord, proposition d'un modèle et confrontation à des simulations numériques

Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frederic Houze

Communication dans un congrès 01/01/2006

Electrical characterization of Schottky diodes based on boron doped homoepitaxial diamond films by conducting probe atomic force microscopy

M. Liao , Y. Koide , Jose Alvarez , Frederic Houze , Jean-Paul Kleider

Communication dans un congrès 01/01/2005

Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy

P. Bergonzo , E. Snidero , D. Tromson , Frederic Houze , Jose Alvarez , Jean-Paul Kleider

Communication dans un congrès 01/01/2005

Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy

P. Bergonzo , E. Snidero , D. Tromson , Frederic Houze , Jose Alvarez , Jean-Paul Kleider

Communication dans un congrès 01/01/2005

Caractérisation de profils de dopage par imagerie de résistance locale à faible force

D. Mariolle , F. Bertin , Pascal Chrétien , Frederic Houze , Olivier Schneegans

Autre publication scientifique 01/01/2005

Réduction de l'inductance propre d'une boucle conductrice, application à la réalisation de contacts pour interposeurs

René Meyer , Frederic Houze

Communication dans un congrès 01/01/2005

Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy

P. Bergonzo , E. Snidero , D. Tromson , Frederic Houze , Jose Alvarez , Jean-Paul Kleider

Communication dans un congrès 01/01/2005

Fabrication of high-Tc superconducting hot electron bolometers for terahertz mixer applications

J.C. Villégier , B. Guillet , M. Chaubet , Frederic Houze , Alain Kreisler

Communication dans un congrès 01/01/2005

Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe AFM in contact mode

Pascal Chrétien , René Meyer , Lionel Boyer , Frederic Houze , Olivier Schneegans

Article dans une revue 01/01/2005

Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe atomic force microscopy in contact mode

Pascal Chrétien , René Meyer , Lionel Boyer , Frederic Houze , Olivier Schneegans

Communication dans un congrès 01/01/2004

Simultaneous height, resistance and capacitance cartography of a SRAM test sample by conducting probe AFM

Pascal Chrétien , René Meyer , Lionel Boyer , Olivier Schneegans , Frederic Houze

Article dans une revue 01/01/2002

“ Copper sample analyzed with an n-doped silicon tip using conducting probe atomic force microscopy

Lionel Boyer , René Meyer , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frederic Houze

Article dans une revue 01/01/1996

Bulk and surface structural properties of Si$_{1-x-y}$Ge$_x$C$_y$ layers processed on Si(001) by pulsed laser induced epitaxy

C. Guedj , J. Boulmer , D. Bouchier , C. Clerc , G. Calvarin , C. Godet , Pere Roca I Cabarrocas , F. Houze , D. Mencaraglia , Frederic Houze , Denis Mencaraglia

Article dans une revue 01/01/1995

Élaboration et caractérisation chimique, topographique, tribologique et électrique de films de polyacrylonitrile post-traités en vue d'applications en connectique

Pascal Newton , Lionel Boyer , Pascal Viel , Gérard Lécayon , Frederic Houze , Sophie Noel